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美国BOWMAN(博曼)X-RAY膜厚仪

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美国博曼测厚仪 美国原装进口,采用先进科学技术应用于该行业 。为客户的测量达到超高标准,元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素,是利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
采用新改进的基本参数法,无论是无标准片测量还是有标准片测量,都能快速并且准确的获得测量结果。为客户节约成本的同时 ,达到优越的测量水准。

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采购帮助2014年09月04日更新

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