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南通菲希尔测试仪器有限公司

FISCHER生产的涂镀层测厚仪主要分为:X射线涂镀层测厚及材料分析仪、β射线测厚仪...

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X 射线荧光测试仪,可自动测量镀层厚度和分析材料组分
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产 品: 浏览次数:5697 
型 号: FISCHERSCOPE® XDAL® 
品 牌: FISCHER 
单 价: 面议 
最小起订量:  
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
更新日期: 2015-07-01  有效期至:长期有效
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详细信息
 

特点

  • 配备了半导体探测器,由于有更好的信噪比,能更精确地进行元素分析和薄镀层测量
  • 使用微聚焦管可以测量较小的测量点,但因为其信号量较低,不适合测量十分细小的结构  
  • 底部C型开槽的大容量测量舱
  • 有弹出功能的快速、可编程XY平台

典型应用领域

  • 镀层和合金的材料分析(还适用于薄镀层和低含量成分)
  • 来料检验,生产监控
  • 研究和开发
  • 电子工业
  • 接插件和触点
  • 黄金、珠宝和钟表工业
  • 可以测量数纳米薄的镀层,如印刷线路板和电子元器件上的Au和Pd镀层
  • 痕量元素分析
  • 在有“高可靠性”要求的应用中确定铅(Pb)含量
  • 硬质镀层分析  

在设计上,FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器和XDLM型仪器相对应。区别在于使用的探测器类型不同。在XDAL上,使用了帕尔贴制冷的硅PIN探测器,从而有了远好于XDLM使用的比例计数器的能量分辨率。因而,这台仪器适合于一般材料分析,痕量元素分析及测量薄镀层厚度。

X射线源是一个能产生很小光斑面积的微聚焦X射线管。然而,由于相对较小的探测器有效接收面积(相比较比例计数器探测器来说),信号强度低,故XDAL有限适用于极微小结构和测量点的测量。和XDLM类似,准直器和基本滤片是可自动切换,以便为不同测量程式创造最佳的激励条件。

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器的测量空间宽大,可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置最高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。

测量系统配有快速可编程的XY平台,因而可以方便地按照预定程序扫描检查样品表面。此外,在如引线框架等样品上进行多点测量,或是在多个不同样品上进行批量测量,都可以通过快速编程自动化地完成。

可靠性高:在电子元器件中测量Pb含量 (>3%)

PCB 装配: 含铅量测试23

由于XY平台在舱门打开时,能自动弹出到加载样品位置,故而样品放置定位变得十分简便。激光点标示处就是样品的测量位置。

应用实例

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器可以用来测量SnPb焊层中的铅含量。在这一应用中,首先要准确测量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工业中高可靠性的要求,为避免裂纹的出现,合金中Pb的含量至少必须在3%以上。

另一方面,对于日常使用的电子产品,根据RoHS指令要求,Pb在焊料中的含量最多不能超过1000ppm。尽管XDAL测量Pb含量的测量下限取决于SnPb镀层的厚度,但是通常情况下XDAL的测量下限足够低,可以很轻易达到以上的测量需求。
 

特征

带有铍窗口和钨钯的微聚焦X射线管。最高工作条件: 50 kV, 50W

X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅PIN二极管

准直器:4个,可自动切换,从直径Ø 0.1mm 到 Ø 0.6 mm

基本滤片:3个,可自动切换

测量距离可在0—80mm范围内调节

可编程XY平台

视频摄像头可用来实时查看测量位置,十字线上有经过校准的刻度标尺,而测量点实际大小也在图像中显示。

设计获得许可,防护全面,符合德国X射线条例第4章第3节
 

典型应用领域

镀层与合金的材料分析(包括薄镀层以及低含量)。来料检验,生产监控。

研发项目

电子行业

接插件和触点

黄金、珠宝及手表行业

测量印刷线路板上仅数个纳米的Au和Pd

镀层

痕量分析

根据高可靠性要求测量铅P含量

分析硬质镀层材料

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