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南通菲希尔测试仪器有限公司

FISCHER生产的涂镀层测厚仪主要分为:X射线涂镀层测厚及材料分析仪、β射线测厚仪...

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高性能X射线荧光测试仪,可自动测量超薄镀层和分析痕量元素
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产 品: 浏览次数:1066 
型 号: FISCHERSCOPE® XDV®-SDD 
品 牌: FISCHER 
单 价: 面议 
最小起订量:  
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
更新日期: 2015-07-04  有效期至:长期有效
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详细信息

高性能X射线荧光测试仪,配有可编程XY平台和Z轴,可自动测量超薄镀层和分析痕量元素

仪器特点

  • 高级型号仪器,具有常见的所有功能
  • 射线激发量的灵活性最大,激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变
  • 通过硅漂移探测器,在 > 10万cps(每秒计数率) 的超高信号量下也可以正常工作,而不会出现能量分辨率的降低
  • 极低的检测下限和出色的测量重复度
  • 带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量仪器
  • 大容量便于操作的测量舱

典型应用领域

  • 测量极薄的镀层,例如应用于电子和半导体行业中
  • 痕量分析,例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测
  • 进行高精度的黄金和贵金属分析
  • 光伏产业
  • 测量 NiP 镀层的厚度和成分 


      FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型仪器配备了感应区域大而分辨率良好的硅漂移接收器,这样在使用大准直器的情况下,可以达到很高的计数率,从而实现良好的重复精度和极低的检测下限。XDV-SDD极其适合痕量分析中超薄镀层的测量。由于提高了低能辐射的灵敏度,同时可测元素的范围也扩大到更低原子序数的元素,这样就可以可靠测量空气中的磷或铝。

XDV-SDD测量空间宽大,样品放置便捷,可以放置平整的样品,也可以放置形状复杂的大样品。连续测试或镀层厚度和元素分布的测量都可以方便地用快速可编程XY-工作台完成。

操作很人性化,测量门开启方便,仪器前部控制面板具备多种功能,日常使用轻松便捷。

为了使每次测量都能在最佳激励条件下进行,XDV-SDD配备了可切换的准直器和基本滤片。

测量位置的精确设定可以很方便地通过高分辨率和高放大倍数的摄像头完成,摄像头可以在操作时精确显示测量位置。激光点作为辅助定位装置进一步方便了样品的快速定位。

良好的性能和通用的设计使得XDV-SDD是研发、过程控制和实验室的理想选择。同时基于其健壮设计和用户友好,它也是品质保证和生产监控必不可少的设备。
 

金属中的有害物质,例如:铝合金中的Pb、 Cd 玩具:检测其中的 Pb、 Cd、Hg

NiP/Fe: P含量分析以及镀层厚度测量 NiP/Fe: P含量分析以及镀层厚度测量
 

特征

带有铍窗口和钨钯的微聚焦X射线管。最高工作条件: 50 kV, 50W

X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅漂移探测器

准直器:4个,可自动切换,从直径0.1mm到3mm

基本滤片:6个,可自动切换

带弹出功能的可编程XY平台

视频摄像头可用来实时查看测量位置,十字线上有经过校准的刻度标尺,而测量点实际大小也在图像中显示。

设计获得许可,防护全面,符合德国X射线条例第4章第3节
 

典型应用领域

测量超薄镀层,例如电子和半导体行业

痕量分析,例如按照RoHS,玩具和包材指令检测有害物质

高精度黄金和贵金属分析

光伏行业

测量NiP层的厚度和成分
 

应用实例

法律条例严格限制多种有害物质的含量,例如电子元件,玩具或包装材料。XDV-SDD使得快速方便地检测是否符合这些限制成为可能。

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