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南通菲希尔测试仪器有限公司

FISCHER生产的涂镀层测厚仪主要分为:X射线涂镀层测厚及材料分析仪、β射线测厚仪...

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高性能X射线荧光测试仪,配有真空室,适用于材料无损分析
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产 品: 浏览次数:974 
型 号: FISCHERSCOPE® XUV® 773 
品 牌: FISCHER 
单 价: 面议 
最小起订量:  
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
更新日期: 2015-07-01  有效期至:长期有效
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详细信息
 高性能X射线荧光测试仪,配有真空室,适用于材料无损分析

特点

  • 通用型高级仪器,可满足各种测量需要
  • 测量舱可以抽真空,并可以对自 Z = 11(Na)起的轻元素进行分析
  • 精确的、可编程的 XYZ 工作台用于自动测量
  • 摄像头用于样品精确定位以及在细小部位上进行测量

典型应用领域

  • 轻元素的测量分析
  • 薄镀层测量和痕量分析
  • 通用材料分析及鉴定
  • 非破坏性宝玉石分析
  • 光伏产业

FISCHERSCOPE X-RAY XUV仪器配有一个可抽真空的大型测量箱。其所装备的大面积硅漂移探测器能够探测低至1 keV的荧光辐射能量,从而能够有效地测量元素N、M以及元素Zn、Cu、Ni的L辐射。大孔径准直器的使用大幅提高了信号计数率,使仪器可以达到极小的重复精度和极低的测量下限。XUV非常适合测量极薄的镀层和痕量分析。

采用不同的准直器和基本滤片组合,能够保证每一次的测量都在最佳的条件下完成。在测量的同时,可以直观地查看测量点的影像。仪器测量空间宽大,样品放置便捷,配合可编程的XYZ轴工作台,既适合测量平面、大型板材类样品,也适合形状复杂的样品。并且使得连续测量分析镀层厚度或元素分析也变得直观而简单。仪器配有一个激光定位点作为辅助定位装置,进一步方便了样品的快速定位。
 

土壤标本、灰质样本、矿物   宝石:阵列 Al2O3, SiO2    晶片:Al/Si-晶片  宝石:痕量分析Cr, Fe, Ti, Ga,...
 

基于仪器的通用设计以及真空测量箱所带来的扩展的测量能力,使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不仅可用于研究和开发,也非常适合过程控制和实验室使用。

应用实例

种类、来源和真实性,是评估宝石价值的本质特征;而宝石材质的分析结果则是影响判断的决定性因素。通常,宝石的主要成份是铝和硅的氧化物,还会伴随有镁和钠等元素。另外,Cr、Fe、G等微量元素也是很重要的。UV可以分析所有必要元素的光谱图。

在多个领域的应用中,非常薄的Al镀层、Si镀层、氧化铝镀层和氧化硅镀层正在变得原来越重要。在真空环境中镀层厚度的测量结果有显著的提高。使用XUV来测量这些镀层,重复精度仅几个纳米。
 

特征

带铍窗口的微聚焦X射线铑管,可选钨管和钼管。最高工作条件:50 kV, 50W

X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅漂移探测器

准直器:4个,可自动切换,从直径0.1mm到3mm

基本滤片:6个,可自动切换

可编程XYZ工作台

摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准,显示实际测量点大小。

可在真空,空气或者氦气的环境下工作
 

典型应用领域

测量轻元素

测量超薄镀层和痕量分析

常规金属分析鉴定

非破坏式宝石分析

太阳能光伏产业

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