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南通菲希尔测试仪器有限公司

FISCHER生产的涂镀层测厚仪主要分为:X射线涂镀层测厚及材料分析仪、β射线测厚仪...

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在生产过程中对薄镀层CIGS、CIS、CdTe进测量分析
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产 品: 浏览次数:899 
型 号: FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 
品 牌: FISCHER 
单 价: 面议 
最小起订量:  
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
更新日期: 2015-07-01  有效期至:长期有效
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详细信息
 X 射线荧光测量系统,用于在生产过程中对薄镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe进行连续在线测量和分析

特点

  • 法兰测量头,用于在生产线中进行连续测量
  • X射线探测器可以为比例计数管,珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
  • 在生产过程中直接用典型产品进行快速简单校
  • 可在真空或大气中使用
  • 可以在最高 500° C 的高温基材上进行测量
  • 坚固和耐用是设计的重心 

典型应用领域

  • 光伏技术(CIGS,CIS,CdTe)
  • 分析对金属带、金属薄膜和塑料薄膜上的镀层
  • 连续生产线
  • 喷射和电镀生产线监测
  • 测量大面积样品 

FISCHERSCOPE X-RAY 5000系列仪器是为了集成到生产线而特别设计的法兰式测量头。它完全适合于在连续运转的生产过程中连续、非破坏地在线直接对大面积产品进行合金成分分析或者超薄镀层测量。相对于X-RAY 4000系列而言,X-RAY 5000没有配备可切换的滤片和准直器,也没有配备视频系统,因为这些装置对于表面积很大的样品来说通常是不需要的。

X-RAY 5000和列仪器可以根据使用进行完全定制:X射线源、基本滤片和半导体接收器,更能为您的高端应用配备最先进的半导体接收器。

仪器可以在空气或者真空环境下使用,此外还可以提供带有水冷系统的法兰接口,它可以让仪器毫无问题地测量表面温度非常高的样品(表面温度最高可达500℃)。

CIGS: CuInGaSe/Mo/glass CIGS: CuInGaSe/Mo/foil

根据仪器的设计,测量距离可以在60mm至150mm之间调节:在特定的情况下,测量距离最大允许有1厘米的变动,例如由于样品的起伏引起的,在测量时,WinFTM软件会自动进行补偿。

仪器的校正直接在生产过程中对着校准板快速而简便地完成。通过纯元素库的进行更好的校正(类似于台式仪器的校准过程)是可行的,但是通常没有必要。X-RAY 5000由于配备了超大的准直器、最先进的半导体接收器和数字脉冲处理器,重复精度非常好。仪器出色的长期稳定性也大大降低了重新校准的必要,这样既节约了时间,又节约了资源。

FISCHERSCOPE X-RAY 5000设计非常紧凑,可以通过标准法兰直接集成到生产线中去。整个工业设计专注于最大化其鲁棒性和可维修性。例如:仪器可以在生产线真空环境中进行修理和维护,而并不需要中断真空过程。

为了将X-RAY 5000测量系统整合到上级的过程控制系统中,仪器具备符合工业标准的开放端口,例如:OPC。
 

应用实例

在光伏产业中,FISCHERSCOPE X-RAY 5000和来测量不同基材(如玻璃、金属和塑料)上的CIGS、CIS和CdTe层的厚度和成分。
 

特征

带玻璃窗口的钨靶的X射线管,也可选铍窗口微聚焦钨管、铑管或者钼管,最高工作条件:50 kV, 50W

X射线接收器采用珀耳帖法冷却的硅-PIN探测器或者硅漂移探测器

固定的视准器:可选Ø 1 mm, Ø 2 mm, Ø 4 mm 或者Ø 8 mm (使用SDD的机型还可以选用 Ø 11 mm)

固定的基本滤片

测量距离:可选60–100 mm 或者100–150mm
 

典型应用领域

太阳能光伏业(CIGS, CIS, CdTe)

分析金属带、金属箔和塑料薄膜上的超薄镀层

连续生产过程在线测量

喷镀和电镀线的过程监控

测量大面积样品

询价单