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DIN EN 60749-11-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度骤变.双液电镀槽法

放大字体  缩小字体发布日期:2012-07-23  浏览次数:1029
核心提示: 中文标准名称: 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度骤变.双液电镀槽法
   标准编号: DIN EN 60749-11-2003

  中文标准名称: 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度骤变.双液电镀槽法

  代替标准号: DIN EN 60749-2002,

  中国标准分类号: L40

  标准关注次数: 37次

  标准上传日期: 2010-9-18

  发布日期: 2003-04

  实施日期: 2003-04-01

  英文标准名称: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002

  采用国际标准号: EN 60749-11-2002,IEC 60749-11-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度的急速变化.双液电镀槽法,IDT,

  标准类别: 德国标准

  标准页数: 10P.;A4 页

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