半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法

标准号：IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003

摘  要：

【 标准编号 】 IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003
【 标准名称 】 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法
【 英文名称 】 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method
【 正文语种 】 英语
【 起草单位 】 IEC/TC 47
【 发布单位 】 IEC
【 发布日期 】 2003-08
【 标准状态 】 N
【国际标准分类号】 31.080.01
【中国标准分类号】 L40
【中文主题词】 环境试验　机械试验　气候　破坏试验　组件　温度变化　半导体器件　电学测量　半导体　集成电路　电子工程　电子设备及元件　试验　电气工程　定义　气候试验
【英文主题词】 CLIMATE　INTEGRATED CIRCUITS　CHANGES OF TEMPERATURE　ELECTRONIC ENGINEERING　TESTING　ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS　ELECTRICAL MEASUREMENT　CLIMATIC TESTS　SEMICONDUCTOR DEVICES　COMPONENTS　DESTRUCTIVE TESTING　DEFINITIONS　ELECTRICAL ENGINEERING　DEFINITION　ENVIRONMENTAL TESTING　SEMICONDUCTORS　MECHANICAL TESTING
【 国别代码 】 国际