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可否用霍尔槽试片检测镀层厚度分布?

放大字体  缩小字体发布日期:2012-04-25  浏览次数:629

可以用霍尔槽试片进行镀层厚度分布的测量,不过需要注意的是霍尔槽试片上的电流密度范围虽然很宽,但整个试片的长度却是有限的,这样只能在试片上取若干个点来分别代表不同电流密度的区间,通常可以取5~10个点,这些点从高电流区到低电流区均匀分布,并且要除掉试片两端各lcm的部位。从这些不同点得到的镀层厚度,基本上就代表了不同电流密度下在同一时间内所能镀得的厚度值。

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